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利用XRF熒光光譜儀Compass300錄井譜圖分析判別巖性

更新時間:2022-12-09      點擊次數:1006

利用XRF熒光光譜儀Compass300錄井譜圖分析判別巖性

目的探究快速,高效判別錄井巖屑巖性的方法.利用XRF錄井譜圖,分析XRF譜圖與巖性的關系,并應用最小二乘法進行分析.結果通過對客戶3000個樣品的分析結果表明,該方法巖性判別符合率達到80%以上.

結論是可以利用標準巖性譜圖比對分析,便可判別出測量樣品的巖性.

Compass 300能量色散X射線熒光(EDXRF)基于臺式機的設計平臺,其分析性能更接近于功率更高的落地式光譜儀,比一般便攜式設備測試效果更穩定,更出眾。配備了*SDD檢測器, 同時實現了高分辨率,高計數率CPS和高靈敏度,從而達到實驗室級別的測試效果。


特點和優勢

•Compass 300配備的SDD檢測器優勢

>高分辨率:通常優于130ev,降低相鄰元素干擾,并提高輕元素檢測效果

>高計數率:150,000 cps (high count per second)

得到相同的強度,只要普通Si Pin檢測器的0.2~0.05倍的時間,即Si Pin在設定分析時間為100秒的話,對SDD而言,得到相同的強度,只需5~20秒

>高靈敏度:靈敏度提高6-10倍。低背景值,提高元素檢測下限

•便攜,堅固,緊湊的設計,輕松實現現場高精度樣品無損檢測

•可分析各種樣品形態:包括礦體、礦塊、礦渣、礦粉、粗礦、精礦、尾礦、土壤、泥土、泥漿、灰塵、粉塵、過濾物、薄膜、廢水、廢油、液體樣品等

•只需制備少量樣品便可進行無損檢測

•一鍵測試,一鍵打印報告

•可選配大容量電池,無需外部供電情況下可實現長時間工作


應用領域

>分析礦種

涵蓋從Mg至U之間的金屬、非金屬、貴重金屬和稀有金屬礦等

>勘查

多元素現場快速分析,可廣泛應用于普查、詳查的各個過程,追蹤礦化異常,擴展勘查范圍。可大大減少送回實驗室樣品的數量,從而節約運輸和分析費用

>巖芯檢測

快速分析巖芯和和其他鉆探樣品,建立礦山三維圖,分析儲量,可大大提高鉆探現場及時決策效率

>開采過程控制

礦體邊界圈定,礦脈走向判定,對開采過程進行精確管理和控制,對礦石品位進行隨時檢測

>品位控制

對精礦、礦渣、礦尾等礦物品位進行精確快速分析,為礦物貿易、加工以及再利用提供價值判斷依據

>環境分析

快速對礦石周圍環境、尾礦、粉塵、土壤污染等進行分析與檢測,評估礦石環境修復效果

>石油化工:燃料,潤滑油,添加劑中的硫元素分析,磨損金屬分析

>刑偵及公安:證據分析,材料匹配,爆炸物等

>食品,化妝品和藥品:添加劑控制,原材料,有害金屬,包裝材料等


技術參數

探測器

高分辨率SDD檢測器

激發源

4瓦微型一體化光管

50kv Max,200uA Max

工作溫度

-20 to 50 °C

測量時間

30-300秒(用戶可自定義測試時間)

樣品類型

液體,固體和粉末

儀器校準

開機自動校準

標定曲線

地礦

儀器尺寸

270mm*320mm*230mm(長*寬*高)

樣品腔尺寸

170mm*110mm*17mm(長*寬*高)

儀器重量

10.5kg

顯示屏(分辨率1280*800)

8英寸 Win10操作系統

數據傳輸

USB Port, 藍牙, Wi-Fi, GPS

安全防護

輻射指示燈

內置射線保護裝置(自動切斷)

軟件警示

報告格式

Excel, PDF

配件及耗材

測試薄膜

礦樣粉末專用測試杯

取樣勺

測試窗口專用薄膜

可選配件

電池:連續工作八小時

壓片機

熔片機

電子秤

磨樣機

150目篩子


無需每日校準即可獲得高精度結果。儀器自帶工廠標定曲線,客戶可直接測量樣品。


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