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XRF熒光光譜儀測定分析鐵礦石品質---EDX9000B測礦儀

更新時間:2022-08-16      點擊次數:1472

鐵礦石是鋼鐵工業的重要原料,其品質的好壞直接影響著冶煉產品的質量,因此,對鐵礦石品質進行快速,準確的檢測是非常重要的.采用XRF分析技術對鐵礦石的品質檢測具有測量時間短,結果穩定可靠等優點.我們對鐵礦石品質的檢測展開了XRF分析技術的研究,主要討論了影響測量精度的各種因素及校正方法,對鐵礦石中的氧化礦原礦,混合鐵精礦,再磨鐵精礦,永磁尾礦等樣品作了分析研究.論文取得的主要成果有:

1)從相對標準偏差的公式著手,對XRF分析儀器的精確度做了評價,試驗結果為RSD=0.150%;

2)通過對同一鐵礦石樣品分別進行300s,200s,150s,1350s,120s,105s,95s,85s,75s,65s,55s,45s,35s,25s,15s,10s和5s的重復測試,評價了不同測量時間下XRF分析儀RSD值的趨勢,得出EDX9000B高精度XRF快速分析儀在外部條件較穩定的情況下,最佳測量時間為200s;

3)通過對"譜漂"的理論研究和數學模型的建立,從解譜軟件中的譜峰面積處理著手,將Fe的Kα峰面積與Kβ峰面積(即總峰面積)代替Kα峰面積,有效地解決了因"譜漂"而產生的計數率變化的問題;

如下是鐵礦石實測譜圖

產品特點

1.小型化、高性能、高速度、易操作,Na11-U92高靈敏度、高精度分析

2.可同時分析40種元素

3.采用多準直器多濾光片和扣背景技術

4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器提供出色的短期重復性和長期再現性以及出色的元素峰分辨率

5.超高記數數字多道電路設計,雙真空抽速機構,真空度自動穩定系統

6.標配基本參數法軟件,多任務,多窗口操作

7.薄膜濾光片技術,有效提高輕元素檢出限

礦產元素檢測專家EDX9000B Plus

>儀器參數

儀器外觀尺寸565mm*385mm*415mm

超大樣品腔:465mm*330mm*110mm

半封閉樣品腔(抽真空時):Φ150mm×75mm

儀器重量: 48Kg

元素分析范圍:Na11-U92鈉到鈾

可分析含量范圍:1ppm- 99.99%

探測器:AmpTek 超高分辨率電制冷Fast SDD硅漂移檢測器

探測器分辨率:122 eV FWHM at 5.9 keV

處理器類型:全數字化DP-5分析器

譜總通道數:4096

X光管:高功率50瓦光管(進口管芯),冷卻方式:硅脂冷卻

光管窗口材料:鈹窗

準直器:多達8種選擇,最小0.2mm

濾光片:7種濾光片的自由選擇和切換

高壓發生裝置:原裝美國高壓,電壓輸出:0-50kV;輸出電流:0-1mA

高壓參數:最小5kv可控調節,自帶電壓過載保護,輸出精度:0.01%

樣品觀察系統:500萬像素高清CCD攝像頭

電壓:220ACV 50/60HZ

環境溫度:-10 °35 °C



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